珠海什么是芯片测试流程
IC封装主要是为了实现芯片内部和外部电路之间的连接和保护作用。而集成电路测试就是运用各种测试方法,检测芯片是否存在设计缺陷或者制造过程导致的物理缺陷。为了确保芯片能够正常使用,在交付给整机厂商前必须要经过的Z后两道过程:封装与测试。封测是集成电路产业链里必不可少的环节,其中封和测是两个概念。从全球封测行业市场规模来看,其中封装和测试占比分别为80%和20%,多年来占比保持稳定。一、发展历程封装大致经过了如下发展历程:1、结构方面:TO->DIP->PLCC->QFP->BGA->CSP->WLP和SiP等2、材料方面:金属、陶瓷->陶瓷、塑料->塑料;3、引脚形状:长引线直插->短引线或无引线贴装->球状凸点4、装配方式:通孔插装->表面组装->直接安装5、封装不断改进的驱动力:尺寸变小、芯片种类增加,I/O增加6、难点:工艺越来越复杂、缩小体积的同时需要兼顾散热、导电性能等。测试芯片是否能够正确地执行预定的功能。珠海什么是芯片测试流程
集成电路是半导体产业的核xin,占整个半导体行业规模的 80%以上。 半导体产业主要包 括集成电路(Integrated Circuit,简称 IC)和分立器件两大类,各分支包含的种类繁多且 应用广。集成电路应用领域覆盖了几乎所有的电子设备,是计算机、家用电器、数码电 子、自动化、通信、航天等诸多产业发展的基础,是现代工业的生命线,也是改造和提升 传统产业的核xin技术。按其功能、结构的不同,集成电路又可以分为模拟集成电路、数字 集成电路和数模混合集成电路等。 集成电路的生产流程可分为设计、制造、封装与测试三 个步骤。大容量芯片测试流程静态测试主要是对芯片的电气特性进行测试,如电压、电流、功耗等。
IC产业继续高度细化分工,芯片测试走向专业化也必定是大势所趋。首先,IC制程演进和工艺日趋复杂化,制程过程中的参数控制和缺陷检测等要求越来越高,IC测试专业化的需求提升;其次,芯片设计趋向于多样化和定制化,对应的测试方案也多样化,对测试的人才和经验要求提升,则测试外包有利于降低中小企业的负担,增加效率。此外,专业测试在成本上具有一定优势。目前测试设备以进口为主,单机价值高达30万美元到100万美元不等,重资产行业特征明显,资本投入巨大,第三方测试公司专业化和规模化优势明显,测试产品多元化加速测试方案迭代,源源不断的订单保证产能利用率。因此,除Fabless企业外,原有IDM、晶圆制造、封装厂出于成本的考虑倾向于将测试部分交由第三方测试企业。
后道检测主要可以分为 CP 晶圆测试、FT 芯片成品测试两个环节。1)CP 晶圆测试:通过探针扎取芯片,将各类信号输入进芯片,再通过抓取芯片的输出响应,计算、测试晶 圆的性能。该环节发生在晶圆完成后、封装前,主要任务为挑拣出不合格裸片,统计晶圆 上的管芯合格率、不合格管芯的确切位置,终反映出晶圆的制造良率。CP 晶圆测试环节 主要使用的设备为探针台、测试机。2)FT 芯片成品测试:FT 测试即为终测,由于经历后 道工序的电路有损坏的风险,因此在封装后要根据测试规范对电路成品进行全方面的性能检 测。该环节发生在芯片封装后,主要任务为挑选出合格的成品电路,根据器件性能的参数 指标进行分级,并记录各级的器件数以及各种参数的统计分布情况。芯片测试的重要性不言而喻。
芯片测试座的三大作用:芯片测试座检查在线的单个元器件以和各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、故障定位准确,快捷迅速等特点。简单点描述就是一个连接导通的插座;作用一:来料检测,采购回来的IC在使用前有时会进行品质检验,找出不良品,从而提高SMT的良品率。IC的品质光凭肉眼是看不出来的,必须通过加电检测,用常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容也不能完全判断IC的好坏;通过IC测试夹具应用功能跑程序,可以判断IC的好坏。作用二:返修检测,有时生产过程中主板出了问题,倒底是哪里出了问题?不好判断!有了IC测试治具什么都好说,把拆下的IC放到测试座内通过测试就能排除是否IC方面的原因。作用三:IC分检,返修的IC,在拆下的过程有可能损坏,用IC测试治具可以将坏的IC分检出来,可以节省很多人力、物力,从而减小各项成本。拿BGA封装的IC来说,如果IC没有分检,坏的IC贴上经过FCT测试检查出来后,把IC拆下来,要烘烤、清洗,很麻烦,还有可能损坏相关器件。用IC测试夹具检测就可以大减少出现上述问题的机率。拥有20年半导体经验。中国台湾本地芯片测试厂家电话
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芯片融合时代:测试也要“上天”过去简单的电子技术就可以满足的需求,如今可能需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长。因此,半导体元器件必须具备极高的可靠性,半导体测试设备对于供应链的价值也由此变得更加重要。对应迅速更新迭代的智能世界,先进制程升级要求半导体检测技术快速迭代,因而对于ATE机台来说,平台通用化、模块化、灵活性高、可升级是未来技术发展的大趋势。系统级测试(SLT,systemleveltest)、大数据分析、ATPG编程自动化等,都是测试领域应对未来半导体市场发展面临的挑战,这需要测试设备厂商有超前的技术眼光,随时跟进市场需求珠海什么是芯片测试流程
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